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探頭老化的原因和癥狀

文章作者：高氧分析儀審核：微量氧分析儀發(fā)布日期 [2012年5月23日] 文章閱讀 [7763] 來源：www.tianqianbao.com

通常我們所指的探頭老化是指氧化鋯檢測器的老化，主要表現(xiàn)在內(nèi)阻升高和本底電勢增大這兩項(xiàng)上：
(1)本底電勢增大
本底電勢是電池附加電勢。引起本底電勢增大的因素有兩種：一種屬于永存因素，它寄生的電池上，如SO2和SO3的腐蝕作用、電池不對稱因素；另一種屬于暫存因素，如電極各灰、空氣對流差等因素，一旦條件改善，本底電勢便可降低。
本底電勢的變大，往往反映檢測器的老化程度，當(dāng)E0值超過分析儀的*大調(diào)節(jié)量時，就說明檢測器已經(jīng)損壞。
舉個例子：
一個氧化鋯探頭，出廠時的E0為-5mV,其允許變化范圍為0—-30mV，使用半年后，變?yōu)?13mV；使用18個月后變?yōu)椋?29mV；這種情況就表明，此檢測器已經(jīng)老化，需要更換。
需要注意的是，有些氧化鋯探頭的老化表現(xiàn)在本底電勢變大上，而有些氧化鋯探頭雖然老化，但卻沒有這種現(xiàn)象，所以我們需要認(rèn)真分析對待。當(dāng)本底電勢變大的原因是由暫存因素引起時，隨著使用時間的推移，則有可能出現(xiàn)本底電勢先變大，再變小的現(xiàn)象。
由于本底電勢增大而導(dǎo)致氧化鋯探頭老化的數(shù)量比內(nèi)阻增大數(shù)量要少，單純本底增大，一般不會出現(xiàn)信號跳動大的現(xiàn)象。
(2)內(nèi)阻升高
實(shí)際運(yùn)用中，氧化鋯探頭老化引起的內(nèi)阻增大較多。內(nèi)阻是指信號線兩端間的輸入電阻，它是引線電阻、電極與氧化鋯間界面電阻及氧化鋯體積電阻三部分之和，因此，電極揮發(fā)、電極脫落和氧化鋯電解質(zhì)的反穩(wěn)（由穩(wěn)定氧化鋯變?yōu)椴环€(wěn)定氧化鋯），都將引起內(nèi)阻升高。測量檢測器內(nèi)阻，可以判斷其老化情況。根據(jù)經(jīng)驗(yàn)，當(dāng)內(nèi)阻增大到接近其使用極限時，將出現(xiàn)信號大跳動現(xiàn)象，有些反應(yīng)為響應(yīng)遲緩的現(xiàn)象。對于這些檢測器，其本底電勢不一定很大。

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以上就是<探頭老化的原因和癥狀>的完整內(nèi)容


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